對(duì)比項(xiàng)目 |
效率E680首件檢測(cè)儀 |
市場(chǎng)上某型號(hào)首件檢測(cè)儀 |
硬
件 |
掃描儀 |
最高分辨率:1600DPI
最大掃描尺寸:420mm x 300mm,最大600mmX420mm
超過(guò)此尺寸可以導(dǎo)入絲印圖進(jìn)行測(cè)量;
PCBA高度:28mm~33mm |
最高分辨率:1600DPI
最大掃描尺寸:420mm x 300mm
PCBA高度:26mm~30mm |
電腦配置 |
高可靠性工控電腦 |
戴爾電腦 |
LCR測(cè)試儀 |
標(biāo)配XL7830,測(cè)試頻率20Hz-300KHz
(基本精度:0.05%) |
品牌電橋,測(cè)試頻率50Hz-100KHz
(基本精度:0.05%)
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機(jī)殼 |
帶工作臺(tái),有自動(dòng)抽屜(停電時(shí)亦可手動(dòng)拉出) ;
有防夾手感應(yīng)裝置,有控制報(bào)警燈 |
帶工作臺(tái),有自動(dòng)抽屜
無(wú)防夾手裝置,無(wú)控制報(bào)警燈 |
軟
件 |
程序制作 |
原始BOM表,坐標(biāo)稍作修改即可導(dǎo)入。
獨(dú)有的BOM及坐標(biāo)數(shù)據(jù)查錯(cuò)功能(比如:BOM用量錯(cuò)、元件重復(fù),坐標(biāo)數(shù)據(jù)漏定義等),同時(shí)可以自定義規(guī)則處理多變的BOM樣式,坐標(biāo)數(shù)據(jù)支持雙面導(dǎo)入 |
需將原始BOM及坐標(biāo)修改成設(shè)備規(guī)定格式,
無(wú)資料糾錯(cuò)功能。
只能單面導(dǎo)入坐標(biāo)數(shù)據(jù) |
測(cè)試過(guò)程 |
1、軟件獨(dú)有最優(yōu)路徑算法,自動(dòng)跳轉(zhuǎn),不需人工進(jìn)行切換;
2、對(duì)于電橋測(cè)量參數(shù)定義準(zhǔn)確,誤判機(jī)率低,從而有效減少重測(cè)次數(shù)。
3、對(duì)IC類有絲印方向元件利用AOI功能提取絲印特征自動(dòng)對(duì)比(可提取多個(gè)特征項(xiàng)),對(duì)比方法更嚴(yán)謹(jǐn)。 |
1、測(cè)試過(guò)程PASS自動(dòng)跳轉(zhuǎn)位置,但元件FAIL后需要重
新選定切換,測(cè)試速度慢。
2、無(wú)電橋參數(shù)定義
3、IC類有絲印元件只對(duì)比整體相似度,無(wú)法保證對(duì)比
的嚴(yán)謹(jǐn)性。
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測(cè)試速度 |
1、電阻電容人工夾取,系統(tǒng)自動(dòng)判定結(jié)果,平均2秒/個(gè)元件
2、有極性和方向元件,系統(tǒng)自動(dòng)光學(xué)AOI對(duì)比判定. |
1、電阻電容人工夾取,系統(tǒng)自動(dòng)判定結(jié)果,但有時(shí)要手動(dòng)取值。
2、有極性和方向元件,自動(dòng)對(duì)比相似度。 |
測(cè)試覆蓋 |
可點(diǎn)亮LED,并區(qū)分極性,可測(cè)磁珠 |
無(wú)法區(qū)分LED極性,無(wú)法測(cè)磁珠 |
系統(tǒng)安全 |
可靈活定義用戶權(quán)限(標(biāo)準(zhǔn)分為管理員,工程師,檢測(cè)員三大類用戶),避免惡意刪改或誤操作 |
無(wú)用戶權(quán)限設(shè)置 |
擴(kuò)展性 |
使用SQLServer數(shù)據(jù)庫(kù),適合大數(shù)據(jù)存儲(chǔ),可實(shí)現(xiàn)多機(jī)聯(lián)網(wǎng),數(shù)據(jù)集中管理,同時(shí)可通過(guò)存儲(chǔ)過(guò)程等方式更方便與企業(yè)當(dāng)前的ERP或MES系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)接 |
本地ACCESS數(shù)據(jù)庫(kù),無(wú)法實(shí)現(xiàn)多機(jī)互聯(lián),且不便與ERP或MES系統(tǒng)對(duì)接。 |
離線編程 |
軟件使用SQL數(shù)據(jù)庫(kù),可支持離線編程,也支持多機(jī)互聯(lián),程序共享。 |
只能單機(jī)使用,無(wú)法實(shí)現(xiàn)離線編程。 |